美國農業研究局植物學家Gina Brown-Guedira正在將現代小麥的兩個祖先（一個是從阿富汗到敘利亞發現的小麥的近親雜草Aegilops tauschii，一個是從伊朗、伊拉克和土耳其發現的Triticum timopheevii）中的抗葉銹病基因組合進小麥基因結構。葉銹病是由真菌病原體Puccinia triticinia導致的，不僅減少小麥的產量，還影響小麥面粉和烤制品的質量。過去，小麥育種項目已經培育出抗病品種，但這些小麥僅有一個抗葉銹病基因。推出幾年后，這些品種通常開始喪失抗病效果。Brown-Guedira已經識別出小麥DNA標識物--一段小的DNA片段在凝膠體上可以看到，并且已知與抗病基因有關聯。
　　這些標識物為識別小麥葉銹病抗性提供了快捷方式，因為在植物生長的任何階段都可以看到。現在科學家必須采用費時間的傳統基因研究才能判定一種植物是否有一個以上的抗病基因。而Brown-Guedira能夠測試植物幾個DNA標識物的存在，因為標識物與抗病基因緊密相連，有很多機會顯示抗病基因的存在。這項研究能夠加快培育種質和帶有多個抗病基因的品種步伐。

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